2.5D相位偏折线扫程控条纹光源
产品特点
◆ 长度可定制：最长可做到2000mm
◆ 超高精度：调节单位0.1μs
◆ 支持最大行频200Khz
应用范围
◆ 3C电子
◆ 新能源
◆ 玻璃面板
◆ 半导体
在高端制造业中，对高反光、透明或具有复杂背景纹理的物体表面进行微米级缺陷检测，一直是传统2D视觉技术的难题。我们的2.5D相位偏折线扫条纹光源，正是为攻克这一挑战而生的革命性产品。它通过投射精密的相位条纹光，能够精准捕捉物体表面的微观形貌变化，将“看光强”升级为“看深度”，为锂电池、3C电子、玻璃面板等行业提供高效、精准的2.5D缺陷检测解决方案。
工作原理
相位偏折技术（Phase Measuring Deflectometry, PMD）的核心在于“结构光”与“相位解算”的结合。
- 投射条纹：光源向被测物体表面投射一系列高对比度、相位已知的正弦条纹光。
- 形变采集：线扫相机同步采集经物体表面曲率调制后发生形变的条纹图像。表面微小的凹凸、划痕会导致条纹产生相应的相位偏移。
- 相位解算：系统通过高精度算法对采集到的多幅相移条纹图进行解算，精确计算出每个像素点的相位变化。
- 形貌重建：最终，将相位信息转换为高度信息，重建出物体表面的2.5D微观轮廓图，从而清晰、量化地呈现各类缺陷。
核心优势
- 攻克高反光材质检测难题
- 痛点：传统光源在镜面、抛光金属、玻璃等高反光表面易产生强烈反光和光晕，掩盖真实缺陷，导致误检或漏检。
- 我们的方案：相位偏折技术不依赖物体表面的灰度或颜色信息，而是通过解析条纹的相位变化来感知表面梯度。这使其能有效抑制镜面反射干扰，精准识别划痕、凹坑、崩边等微米级形貌缺陷。
- 消除复杂背景纹理干扰
- 痛点：当产品表面自带拉丝、磨砂或印刷图案时，这些背景纹理会严重干扰缺陷的识别。
- 我们的方案：系统能从“形状图”中提取具有深度变化的特征，有效滤除无高度变化的背景图案。无论是带有拉丝纹的铝壳，还是有图案的蓝膜电池，都能轻松实现缺陷与背景的分离。
- 单次扫描，复合检测
- 痛点：传统方案可能需要多个工位、多种光源才能同时检测形貌和脏污等不同类型缺陷，效率低下。
- 我们的方案：一次扫描即可同步生成多种算法结果图，如突出高度变化的“形状图”和反映表面光泽差异的“光泽比图”。这意味着一套系统就能同时完成对凹凸、划痕等形貌缺陷和脏污、氧化不均等外观缺陷的全方位判定，大幅提升检测节拍。
- 专为高速产线设计
- 痛点：高精度检测往往以牺牲速度为代价，难以满足现代产线的快节奏需求。
- 我们的方案：采用高速频闪技术，支持高达200KHz的投射频率，配合线扫相机的并行处理逻辑，实现图像采集与2.5D数据融合的同步进行，确保在高速动态场景下也能实现稳定、高效的在线检测。
典型应用场景
- 3C电子：手机中框、背板、散热片的划痕与凹坑检测；笔记本电脑外壳的表面缺陷检测。
- 新能源：蓝膜电池表面的气泡、脏污检测；极耳、铝壳的平整度与缺陷检测。
- 玻璃面板：手机盖板、车载屏幕、钢化膜的崩边、麻点、划痕检测。
- 半导体：晶圆、芯片封装表面的抛光不良、微小缺陷检测。
打光案例
